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SIM卡座发展趋势
2021-09-15
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随着电子产品的飞速发展，对电子元器件、电子连接器、SIM卡座等的性能要求也越来越高。那么，下面就来了解一下SIM卡座发展趋势。
SIM卡座等连接器的使用已成为电子产品行业不可缺少的电子元器件，卡座的连接器是手机、电脑中常用的连接器之一，SIM卡座是手机的SIM读卡装置，是手机中使用的重要在此，对连接器的性能指标进行说明。
1、特性阻抗
和其他微波器件一样，特性阻抗是非常重要的指标，直接影响驻波比、工作频率和插入损耗。 一般的连接器特性阻抗为50和75.
2、接触电阻
顾名思义，射频连接器的接触电阻是指该接触点的电阻，分别是指内导体和外导体的接触电阻。 显然该值越小越好，通常为m级，外异体接触电阻小于内导体。
3、工作频率范围
同轴连接器的下限截止频率为零，上限动作频率为截止频率的95%。 动作频率取决于连接器的结构。 一般来说，外导体的尺寸越小，SIM卡座的动作频率越高。 填充介质的介电常数越低、动作频率越高，插入损耗越低。 同轴连接器的最高工作频率可以达到110GHz。
4、SIM卡座连接力矩
关于SIM卡座嵌合力矩，制造商给出的指标不完全一致。 这是因为各自的材料不同。 不锈钢连接器的嵌合力矩应大于铜连接器。 嵌合力矩越大，意味着连接器的使用耐久性越高。
5、绝缘电阻
绝缘电阻是指聚四氟乙烯等连接器内依赖于绝缘材料的绝缘材料的电阻。 绝缘电阻的典型值大于5g(n型)。 如果这个指标不好，就会产生漏电流。
6、SIM卡座的耐久性(插拔寿命) )。
与连SIM卡座嵌合的标准连接器在完成完全嵌合且完全分离的循环后，可以一次重新拔插。 MIL_C-39012标准规定了射频连接器的插拔寿命。 n型连接器时，以每分钟12次插拔为前提，插拔寿命不得少于500次。 插拔500次后，SIM卡座应无明显机械损伤。 各嵌合功能应保持不变。 对于测试电缆组件，寿命意味着即使在完成规定次数的插拔后，电缆组件的VSWR和插入损耗仍在产品手册规定的范围内。
SIM卡座有小型化、薄型化的趋势。 由于目前电子设备向智能化、小型的方向发展，设备内部空间有限，包括SIM卡座在内的各部件需要相应的小型、低高度设计调整。 同时，由于电子设备移动的特殊性，SIM卡座对抗震要求较高，必须确保可靠的连接性和数万次的插拔寿命。
以上介绍的就是SIM卡座发展趋势。如需了解更多，可随时联系我们!我公司有多年的经验，随时期待您的加入。
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